JART 日本テスト学会 第16回大会実行委員会企画セッション
「ICT を活用した教育・学習支援システムが開く新たな評価の可能性」に弊社代表 礒津が参加します。
現在ICT を活用した教育・学習システムが普及していくなかで、他者比較などに重点を置いた従来型の測定から、個別性に着目した測定へのシフトが進行しつつあります。
ソニー・グローバルエデュケーションからは、これまでの取り組みのなかから話題提供を行い、皆様と一緒に考えていきたく存じます。
大会実行委員会企画セッション
「ICT を活用した教育・学習支援システムが開く新たな評価の可能性」
- 日時：9月8日（土）15:00 〜 16:30
- 会場：東京家政大学 (板橋キャンパス15号館）
- 連絡先：日本テスト学会 第 16 回大会事務局
詳細：http:jartest16th.jp
パネリスト
礒津 政明 （株式会社ソニー・グローバルエデュケーション）
林部 貴亮 （Classi 株式会社）
本間 達朗 （ニュートンジャパン株式会社）
司 会： 孫 媛 （国立情報学研究所）
