JART 日本テスト学会第16回大会開催のお知らせ

『多面的な評価が要求されるプログラミング教育のアセスメント環境』について

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JART 日本テスト学会 第16回大会実行委員会企画セッション
「ICT を活用した教育・学習支援システムが開く新たな評価の可能性」に弊社代表 礒津が参加します。

現在ICT を活用した教育・学習システムが普及していくなかで、他者比較などに重点を置いた従来型の測定から、個別性に着目した測定へのシフトが進行しつつあります。
ソニー・グローバルエデュケーションからは、これまでの取り組みのなかから話題提供を行い、皆様と一緒に考えていきたく存じます。

大会実行委員会企画セッション
「ICT を活用した教育・学習支援システムが開く新たな評価の可能性」

  • 日時:9月8日(土)15:00 〜 16:30
  • 会場:東京家政大学 (板橋キャンパス15号館)
  • 連絡先:日本テスト学会 第 16 回大会事務局
    詳細:http:jartest16th.jp

パネリスト

礒津 政明 (株式会社ソニー・グローバルエデュケーション)
林部 貴亮 (Classi 株式会社)
本間 達朗 (ニュートンジャパン株式会社)
司 会: 孫 媛 (国立情報学研究所)